Поиск



Фото Наименование Подразделение Назначение Технические характеристики Проведение измерений, испытаний, исследований
Картинка 1
3D - принтер Cube Pro Trio НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование для физической обработки материалов Для изготовления нестандартных образцов гибридных материалов, предназначенных для проведения научных исследований; можно создавать 3D-объекты методом послойного наложения
Габаритные размеры: 567 х 581 х 606 мм
Масса: 41 кг
Толщина наносимого слоя: 75; 200 и 350 мкм
Максимальный размер объектов на выходе: 275 х 265 х 240 мм
Заказать работу
Картинка 1
Автоматический микротвердомер Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" Оборудование для определения механических свойств и величин Измерение твердости в диапазоне усилий 0,1-500 г Заказать работу
Картинка 1
Автоматический электрогидравлический пресс для испытаний нестандартных образцов гибридных материалов НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование пробоподготовки Пресс SimpliMet XPS1 представляет собой электрогидравлическую автоматическую систему горячей запрессовки, позволяющую сократить время запрессовки образца. Позволяет изготовить запрессованные образцы размером 30 мм приблизительно за 5 минут. Такая эффективность обеспечивается за счет оптимизации типовых стадий нагревания и охлаждения в процессе горячей запрессовки.
Электрическое питание: 220 В/50 Гц/1 ф;
мощность электропечи: 1500 Вт;
система давления: автоматическая электро-гидравлическая;
предварительное давление: 24 бар;
развиваемое давление: 80-300 бар с шагом 5 бар +/- 10 %;
рабочая температура: 50-200 °C с шагом 10 °C;
время нагрева: 1-20 мин с шагом 10 с;
время охлаждения: 1-30 мин с шагом 10 с;
тип пресс-формы: цилиндрическая (верхний и нижний поршни);
тип запорного механизма: изолированный байонетный замок с поршневым зубцовым фиксатором;
внутренний диаметр формы: 25,30,40,50 мм;
соответствие требованиям стандартов: CE, PSE, RoHS, WEEE.
Заказать работу
Картинка 1
Акустико-эмиссионная компьютеризированная информационно-измерительная система NI PXI-1042Q Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Принимает и 3U PXI и CompactPCI модули
Расширенный температурный диапазон от 0 до 55 °C
Низкий уровень шума 43 дБ
Соответствует техничиским требованиям PXI и CompactPCI
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор температуропроводности NETZSCH LFA 457 MicroFlash ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование термическое Прибор NETZSCH LFA 457 MicroFlash предназначен для определения температуро- и теплопроводности твердых материалов методом лазерной вспышки.
Диапазон температур: от комнатной температуры до 1100 °C;
Энергия импульса лазера: до 18 Дж/импульс;
Диапазон измеряемых величин температуропроводности: 0,01 – 1000 мм2/с;
Диапазон измеряемых величин теплопроводности: 0,1 – 2000 Вт/(мK);
Размеры круглых образцов: ∅ 12,7 мм, толщина 0,1 – 6 мм;
Размеры квадратных образцов: 10 x10 мм, толщина 0,1 – 6 мм;
Газовая среда: статическая и динамическая газовая атмосфера (Ar) или вакуум.
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор теплопроводности Netzsch LFA 447 NanoFlash Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Температурный диапазон: комнатная до 300 °C
Диапазон температуропроводности: от 0,01 до 1000 мм2
Диапазон теплопроводности: от 0,1 до 2000 Вт/(м•К)
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор удельной поверхности и пористости Quantachrome Nova 1200e Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие Диапазон измеряемых площадей: 0,01 ÷ свыше 2000 м2
Снятие изотерм адсорбции и десорбции
Диапазон диаметров пор: 3,5 ÷ 2000
Заказать работу
Картинка 1
Аппарат точечной сварки Lampert PUK 4.1 Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование термическое Аппарат точечной сварки
является специальным оборудованием,
обеспечивающим идеальное сваривание
термопар и иных деталей. Увеличение - 10х.
Диаметр видимого, рабочего поля - 20 мм.
Рабочее расстояние от (обьектива до детали) варьируемое - 145 мм.
Встроенный автоматический ЖК фильтр.
Потребляемая мощность 400 Вт.
Защитный газ мин. АРГОН 99,8 %.
Заказать работу
Картинка 1
Бокс акриловый перчаточный Plas-Labs 855-AC/EXP Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование пробоподготовки Предназначен для работы с образцами в инертной атмосфере;
Атмосфера - аргон.
Заказать работу
Картинка 1
Вертикальный CVD реактор для синтеза нанотрубок Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" Оборудование термическое Температура нагрева 1800°С Заказать работу
Картинка 1
Вертикальный обрабатывающий центр с ЧПУ VDL500 НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование пробоподготовки Размер стола (Д х Ш): 700 х 320
Максимальная нагрузка на стол: 150 кг
Расстояние от оси шпинделя до направляющих колонны: 430 мм
Расстояние от торца шпинделя до поверхности стола: от 140 до 520 мм
Перемещение (X/Y/Z): 450/350/380 мм
Заказать работу
Картинка 1
Весы электронные GR 200 НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование для определения механических свойств и величин Наибольший предел взвешивания: 210 г
Наименьший предел взвешивания: 0,01 г
Дискретность отсчета: 0,0001 г
Цена поверочного деления: 0,001 г
Пределы допускаемой погрешности: ±0,0003 г
Среднее квадратическое отклонение: не более 0,0001 г
Время установления показаний: 3,5 с
Рабочий диапазон температур: от 5 С до 40 С при влажности менее 85 %
Класс точности по ГОСТ 24104: 1
Заказать работу
Картинка 1
Визкозиметр Rheomat RM100 Научно-исследовательский центр композиционных материалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Универсальный ротационный вискозиметр с высокоточной измерительной системой, построенной без использования пружин.
Скорости вращения: 34 скорости.
Диапазон крутящего момента: от 0.05 до 30 мН•м.
Температура: от -20 до 120°C.
Диапазон измерения вязкости:от 1 мПа•с до 510 M мПа•с
Заказать работу
Картинка 1
Вискозиметр Brookfield DV3T 5НВ Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
- диапазон измерений – 4 Па*с – 1,6*10^6 Па*с.
Заказать работу
Картинка 1
Вискозиметр Brookfield DV3T LV Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
- диапазон измерений – 0,001 Па*с – 6000 Па*с.
Заказать работу
Картинка 1
Вулканизационный пресс ТЕСАР АПВМ-904 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование пробоподготовки Размеры нагревательных плит, мм: 400х400
Максимальное расстояние между плитами, мм: 250
Максимальное усилие закрытия: 40 тонн
Нагрев плит до 200 градусов
Микропроцессорная система управления, позволяющая быстро программировать и поддерживать в заданных пределах рабочее давление, температуру плит, время вулканизации и количество подпрессовок.
Заказать работу
Картинка 1
Высокотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр DSC 404 C Pegasus ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование термическое Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 404 C Pegasus позволяет определять тепловые эффекты фазовых переходов, их температуры, а также теплоёмкость для широкого спектра конденсированных материалов. Измерения могут проводиться как в чистой газовой среде, так и в вакууме.
Технические характеристики калориметра DSC 404 C Pegasus :
Диапазон температур: от комнатной до 1650°C;
Скорость нагрева: 0,01 – 20 K/мин.;
Время охлаждения: ~ 45 мин. (от 1650 до 100°C);
Воспроизводимость при определении энтальпии: < 1,5 %;
Воспроизводимость при определении температуры (до 1000°C): < 0,3 K;
Воспроизводимость базовой линии: < ± 1 мВт, при T < 1500°C;
< ± 2,5 мВт, при T > 1500°C.
Заказать работу
Картинка 1
Гониометр-спектрометр ГС-2 МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов) Рабочий диапазон длин волн (460 - 680) нм.
Диапазон величин показателя преломления не ограничен.
Диапазон измерения плоских углов (0 - 360)°.
Пределы допускаемой погрешности при измерении любого углового интервала ± 2″
Заказать работу
Картинка 1
Горизонтальный CVD реактор для синтеза графенов Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" Оборудование термическое Температура нагрева 1500°С Заказать работу
Картинка 1
Двухколонная машина для испытаний Instron 5569 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Проведение механических испытаний на растяжение-сжатие- изгиб.
- Максимальное усилие 5 тонн;
- Максимальная скорость деформирования 228 мм/мин;
- Наличие различных датчиков деформации: видео- и навесного экстензометра, объемной деформации;
- Захваты для плоских и цилиндрических образцов;
- Наличие программного обеспечения.
Заказать работу
Картинка 1
Дилатометр высокотемпературный NETZSCH DIL 402 C Научно-исследовательский центр композиционных материалов Оборудование термическое При необходимости измерений линейного термического расширения твердых, жидких материалов, порошков и паст также как и керамических волокон, дилатометр DIL 402 C с вакуум-плотной печью выполняет эти измерения легко и точно. Современный дизайн в сочетании с измерительной системой из инвара и высокоточным преобразователем смещения, а также всесторонним термостатическим контролем предлагает самый высокий уровень точности, воспроизводимости и долговременной стабильности для измерений в диапазоне температур до 1700 °C. Заказать работу
Картинка 1
Дилатометр закалочно-деформационный DIL805A/D Лаборатория "Деформационно-термические процессы" Оборудование термическое Закалочно-деформационный дилатометр DIL 805 A/D позволяет точно измерять изменения размеров образца, вызванных изменениями его температуры.
Типовые измерения включают:
- коэффициент термического расширения;
- определение точек разупрочнения;
- определение структурных и фазовых превращений;
- кинетика структурных и фазовых превращений;
- влияние скоростей нагрева и охлаждения, а так же параметров деформации на формирование микроструктуры и механических свойств материалов;
- построение фазовых диаграмм (при нагреве, охлаждении, охлаждении после деформации).
Закалочный модуль: позволяет индуктивно нагревать образец до определенного уровня температуры в воздушной атмосфере, под защитным газом или в вакууме, а затем непрерывно охлаждать с различными (линейной или экспоненциальной) скоростями. Фазовые превращения, возникающие в непрерывном процессе охлаждения или в изотермической фазе ожидания (которые могут быть также многоступенчатыми), очевидны из линейной деформации образца. Начало и конец превращений разграничивают поля, например, феррита, карбида, графита, перлита, бейнита, мартенсита или других эвтектоидных фазовых смесей.
Деформационный модуль: позволяет деформировать образец при соответствующей температуре и с разными деформационными параметрами. При этом процесс деформации можно реализовать, например, линейно, многоступенчато, с постоянной скоростью деформации или с постоянным усилием.
Измерительная альфа-головка: в модуле используются компоненты с низким коэффициентом линейного расширения для высокоточных измерений. Эта система позволяет проводить стандартные дилатометрические испытания, такие как определение коэффициента термического расширения и точки разупрочнения.
Оптический модуль: традиционные дилатометрические измерения теплового расширения материала в одном направлении имеют один недостаток, связанный с тепловыми взаимодействиями в точке контакта испытываемого образца и байков. При использовании оптического (лазерного) модуля изменение размеров образца фиксируется в двух направлениях. Измерения бесконтактны, поэтому на них не влияет градиенты температуры и не требуется дополнительная калибровка и коррекции.
Таблица рабочих параметров:
Диапазон температур, в зависимости от измерительной системы: 20 °С — 1500 °С; -150 °С — 1300 °С; 20 °С — 1500 °С.
Принцип нагрева: индуктивный.
Атмосфера: защитный газ, вакуум, воздух.
Разрешающая способность: 0,05 мкм / 0,05 °C.
Усилие деформации: макс. 40 кН.
Скорость деформации — 0,001 — 20 с-1.
Истинная степень деформации — 0,05 — 1,5.
Область практического применения: дилатометр типа 805A/D предназначен для регистрации фазовых и структурных превращений. Определяемые параметры можно использовать для построения кривых текучести, термокинетических диаграмм (CCT, TTT и DTTT) и др. Термокинетические диаграммы позволяют определить необходимые скорости охлаждения для получения заданной структуры и комплекса свойств, исследуемого материала, которые можно использовать на производстве. Измеряемые или рассчитываемые параметры дают возможность смоделировать различные процессы обработки металлов давлением и термомеханической обработки.
Заказать работу
Картинка 1
Динамический механический анализатор TA Instruments Q800 (дилатометр) Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Модуль для динамического механического анализатора со встроенными управляющим компьютером, сенсорным дисплеем и системой регулировки газовых потоков. Конструкция измерительной/нагружающей системы без пружин, основанная на электромагнитном бесконтактном перемещении вала двигателя и системе воздушных подшипников, обеспечивающая большой динамический диапазон линейного перемещения (от 0.5 до 10000 мкм) и регистрация перемещения оптическим кодером высокой точности (разрешение кодера 1 нм) Заказать работу
Картинка 1
Измеритель электропроводности «Константа К6» НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Изучение и измерение свойств веществ и материалов Диапазон измерения электропроводности: 0,005 - 59 МСм/м;
Предел основной относительной погрешности измерения: 2 %;
Диаметр зоны контроля преобразователя: от 4 до 6 мм;
Индикация: матричный LCD индикатор с отображением сигнала и порога срабатывания сигнализации;
Число ячеек памяти результатов контроля: 999 с возможностью разбивки на 99 групп;
Диапазон рабочих температур: от минус 20 до 50 °С

Заказ работ временно недоступен

Картинка 1
Интерферометр типа Физо ИФ-77 МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов) Бесконтактный метод. Диаметр измеряемых пластин до 120 мм, правильность интерферометра 0,05 инт. полос.
Источник излучения - гелий-неоновый лазер l = 0,63 мкм.
Измеряемые параметры – отклонение от плоскостности бесконтактным методом от 0,03 до десятков микрометров.
Заказать работу
Картинка 1
Калориметр высокотемпературный изотермический Кальве Alexsys 1000 Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения теплоты растворения и образования соединений;
Основные характеристики оборудования:
- интервал рабочих температур - до 1000 оС;
- разрешение - 12,5 мкВт;
- диапазон измерения - ± 2 мВ или ± 20 мВ.
Заказать работу
Картинка 1
Калориметр высокотемпературный комбинированный Labsys TG-DTA/DSC Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для проведения дифференциального термического анализа образцов.
- максимальная температура нагрева 1600 оС;
- разрешение – 0,4 мкВт;
- скорость сканирования – 0,01-100 оС*мин^-1.
Заказать работу
Картинка 1
Калориметр сверхвысокотемпературный комбинированный Setsys TGA-24 Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Предназначен для определения теплоты, возникающей при любых фазовых превращениях.
- максимальная температура нагрева 2400 градус С;
- разрешение – 0,4 мкВт;
- максимальная навеска – 3,5 г.
Заказать работу
Картинка 1
Камерная вакуумная электропечь СНВЭ (Ф) 1.3.1/16 НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование термическое Температура: до 1300 С
Габаритные размеры рабочего пространства (Д х Ш х В): 300 х 100 х 100 мм
Масса загрузки: 15 кг
Заказать работу
Картинка 1
Комплекс Gleeble System 3800 Лаборатория "Деформационно-термические процессы" Оборудование для определения механических свойств и величин Комплекс позволяет при минимальных затратах времени и материальных ресурсов получить информацию о поведении металла и изменении его механических свойств в процессе прокатки, ковки, экструзии, литья, сварки и др., что важно при разработке новых или корректировки уже существующих технологий.
Возможные области применения:
- оценка термомеханического поведения материалов в твердом или твердожидком состоянии;
- определение механических свойств материалов в широком спектре внешних воздействий (силовых, скоростных и температурных);
- получение дилатометрических кривых в условиях высоких скоростей нагрева/охлаждения;
- построение термокинетических диаграмм распада твердых растворов и др.;
- моделирование ряда технологических процессов (прокатка, ковка, экструзия, литьё под давлением, контактная сварка и др.)
Основные характеристики комплекса:
- проведение испытаний по разным схемам (растяжение, сжатие, кручение, комбинированно);
- скорость нагрева > 10 000 °С/с;
- скорость охлаждения > 1000 °С/с;
- линейная скорость подвижной траверсы - до 2000 мм/с;
- усилие сжатия - до 200 кН;
- усилие растяжения - до 100 кН;
- крутящий момент - до 1500 Нм;
- скорость кручения - до 1500 об./мин;
- высокие температуры нагрева (до 1750 °С) и высокая точность (не хуже 1 °С) поддержания температуры образца в рабочей зоне;
- высокая скорость (до 50 кГц) считывания данных с датчиков силы, деформации, температуры.
Испытания материалов:
- механические испытания при высоких скоростях нагрева/охлаждения и деформационного воздействия;
- изотермические испытания (растяжение/сжатие/кручение) модельных образцов при повышенных (вплоть до Тпл) температурах;
- усталостные испытания в условиях термо- и механоциклирования;
- испытания на релаксацию напряжений и длительную прочность;
- исследование мех. свойств в зоне термического цикла сварки;
- вскрытие трещин, вызванное деформацией/напряжением;
- высокоскоростная дилатометрия.
Моделирование процессов:
- термическая и термомеханическая обработка;
- горячая прокатка, ковка, экструзия;
- плавление и кристаллизация;
- разливка металла;
- сварочные циклы;
- непрерывный отжиг;
- спекание порошковых материалов;
- обработка в квазиравновесном двухфазном состоянии.
Заказать работу
Картинка 1
Комплекс оборудования для напыления тонких пленок Sunpla 40TM (установка магнетронного напыления) ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие Предназначена для напыления металлических, диэлектрических и полупроводниковых материалов как простых веществ, так и сложных соединений. Установка позволяет напылять электрооптические, многослойные градиентные покрытия с заданными толщинами каждого слоя. Шлюзовая камера оснащена системой очистки и загрузочной кассетой с держателем на три образца диаметром 4''. Камера снабжена ионной пушкой для очистки подложки, предусмотрена подача высокочастотного потенциала на подложку.
Диаметр распыляемой мишени – 2'';
Максимальное давление остаточных газов – 10-6 Торр;
Максимальная температура подложки – 800 °C;
Максимальный диаметр подложки – 4'';
Максимальное количество газов – 3;
Одновременная работа магнетронов – да;
Вращение подложки – да;
Количество магнетронов – 4.
Заказать работу
Картинка 1
Комплекс оборудования ТеТеМ для послеростовой подготовки поверхности (фемтосекундная система; установка плазмохимической обработки) ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие В комплекс оборудования для послеростовой подготовки поверхности входят:
1. Фемтосекундная система ООО «Авеста» (Россия)
Предназначена для импульсного воздействия на образцы световым излучением высокой интенсивности (1010 и более Вт/см2) с целью структурной модификации материала, возбуждения электронной подсистемы, в том числе за счет реализации режима многофотонного поглощения, а также для ассистирования процесса роста тонких пленок методом высокочастотного магнетронного распыления.
Технические характеристики:
Длины волн излучения: 800 нм, 400 нм и 267 нм
Частота повторения до 1 кГц
Энергия импульса на первой гармонике >3,5 мДж
Длительность импульса < 50 фс

2. Установка плазмохимической обработки «ТеТеМ» (Россия)
Источник плазмы предназначен для активизации газовых реакций при пониженном давлении (1...10 Па) и позволяет генерировать ионы рабочего газа плотностью 1011 см-3. Источник плазмы состоит из трех взаимосвязанных устройств: реактор, ВЧ генератор и газовая система. Газовая система состоит из двух независимых каналов для подачи в зону реакции смеси газа-носителя и рабочего газа-прекурсора. В состав каждого канала входит полный комплект газовых элементов, необходимых для регулирования, управления и контроля газового потока. Подключение дополнительного высокочастотного генератора (и согласующего устройства соответственно) к подложкодержателю, не соединенного с корпусом установки, позволяет независимо от основного источника разряда корректировать энергию ионов.
Заказать работу
Картинка 1
Копер маятниковый Instron SI-1M Научно-исследовательский центр композиционных материалов Оборудование для определения механических свойств и величин Измерение ударной вязкости.
Доступная энергия удара: 300 Дж.
Моторизованный подъем молота с автоматическим возвратом в исходное положение после испытания для повышения производительности и безопасности оператора
Электромагнитный тормоз управления обеспечивает безопасное падение молота
Двойная блокировка для предотвращения случайного удара молота
Cоответствия следующим стандартам:
ASTM E23 Стандартные методы испытания образцов металлических материалов с надрезом на удар;
EN 10045 Ударные испытания металлических материалов по методу Шарпи;
ISO 148 Металлические материалы - Ударное испытание на маятниковом копре по Шарпи;
ГОСТ 9454 Метод испытания на ударный изгиб при пониженных, комнатной и повышенных температурах;
Сертификат соответствия CE
Заказать работу
Картинка 1
Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette-22 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Лазерный дифракционный анализатор распределения частиц по размерам в диапазоне 0,01 - 2000 мкм Заказать работу
Картинка 1
Машина для испытаний на кручение Instron 55 MT Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Конструкция захватов обеспечивает высокую жесткость вращения и низкий уровень осевого трения;
Универсальное программное обеспечение Partner обеспечивает широкий спектр выполняемых расчетов.
Максимальный крутящий момент 22 Н•м;
Максимальная длина образца 470 мм;
Скорость до 120 об/мин.
Заказать работу
Картинка 1
Машина испытательная Instron M-3 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Максимальное усилие: 30 кН; максимальная температура испытания: 1200 °С; типы испытываемых образцов: плоские и цилиндрические. Заказать работу
Картинка 1
Металлографический оптический микроскоп Carl Zeiss AxioLab с программным обеспечением Tixomet НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х50 - х1000
Увеличение объективов: х5; х10; х20; х40; х50; х100
Увеличение окуляров и поле зрения: PL х10/20 Br и PL х10/22 Br
Доступные методы контраста: светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг. ДИК, флуоресценция.
Заказать работу
Картинка 1
Микроиндентор CSM Micro Indentation Tester Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Для определения механических свойств по отпечатку индентора: диапазон нагрузки 0,03-30 Н; максимальная глубина 200 µм;разрешение по глубине 0,3 нм.
Для определения механических свойств царапанием: диапазон нормальной силы max 200 Н, разрешение по нагрузке 3 мН; максимальная сила трения 200 Н; разрешение по силе трения 3 нм
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп «Axio Imager» M1m, Carl Zeiss МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Приборы для микроскопических исследований Автоматизированный микроскоп типа «Axio Imager M1m» с техническими характеристиками не хуже:

– увеличение не менее 50х;

– апертура не менее 0,8.

Видеокамера типа «uEye UI – 146x» с техническими характеристиками не хуже:

- увеличение не менее 10х.

Технические возможности прибора:

– исследование материалов на отражение света;

– исследование материалов на просвет;

– исследование материалов в поляризованном свете.

Постоянная микроскопа – постоянная Малляра для данной системы: К=0,006
".
Общее увелич. от 50 до 1000х, 7 объективов, проходящий, отражённый свет.
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп инвертированный металлографический Carl Zeiss AXIOVERT 40 MAT Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический AXIOSCOP 40 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический оптический AxioObserver (с программным обеспечением Tixomet) НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Увеличение микроскопа: х50 - х1000 (без конфокальных лазерных приставок и модулей Optovar)
Увеличение объективов х5, х10, х20, х50, х100
Увеличение окуляров и поле зрения; W-PL х10/23 мм
Доступные методы контраста: светлое поле, тёмное поле, поляризация, ДИК, круговой ДИК, флуоресценция
Габаритные размеры ДxШxВ: 831 (включая HAL 100) х 294 х 425 мм (без штатива на просвет)
Масса: 30 кг.
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический оптический AxioScope (с программным обеспечением Tixomet) НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х12,5 - х1000
Увеличение объективов: х1,25, х2,5, х5, х10, х20, х40, х50, х63 и х100
Увеличение окуляров и поле зрения: W-PL х10/23 мм
Доступные методы контраста светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг./Plas ДИК, флуоресценция.
Программное обеспечение Tixomet
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп просвечивающий электронный JEOL JEM-2100 ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований

JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).
Разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1°, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
Столик образцов: Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп растровый электронный низковакуумный JSM-6480LV ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований

Ускоряющее напряжение – от 0,3 до 30 кэВ;
Разрешение в режиме с низким вакуумом – 4,0 нм;
Разрешение в режиме с высоким вакуумом - 3,0 нм;
Увеличение в режиме с низким вакуумом - От 5 до 300 000;
Увеличение в режиме с высоким вакуумом от 5 до 300 000.

Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах.
Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности:
- спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава;
- детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).

Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп световой Olympus GX 71 Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Приборы для микроскопических исследований Предназначен для металлографических исследований металлических образцов;
- увеличение – до 2000 крат
- наличие поляризатора и анализатора, камеры 5 мегапикселей.
Заказать работу
Картинка 1
Микротвердомер «Affri DM 8» B AUTO МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для определения механических свойств и величин Автоматический выбор инденторов.
Автоматический пересчет микротведости по методам Виккерса, Роквелла и Бринелля.
Пошаговый моторизованный столик 100х100.
Полностью моторизованная нагрузка со скоростью 50 μ/sec.
Нагрузки (гр.): 1, 3, 5, 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000, 2000.
Общее увеличение: 100х, 400х.
Время выдержки: 5–99 сек.
Измерительная шкала 250 μ/мм.
Минимальное деление 0,1 μ/мм.
Заказать работу
Картинка 1
Мини-мельница шаровая Pulverisette 23 Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование пробоподготовки Предназначена для размола материалов;
- материал шаров и барабана – оксид циркония;
- колебания размольного стакана в минуту - 900 – 3000 при амплитуде 9 мм;
- процесс измельчения - сухая среда/жидкая среда.
Заказать работу
Картинка 1
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами

Два источника рентгеновского излучения: 2.2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора;
- кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y - 150 мм с точностью ± 5мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5мкм, соответственно;
- точность перемещения по осям ω и 2θ - 0,055 угл. с;
- компьютери-зированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора;
- возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца;
- детектор с большим динамическим диапазоном (107);
- наличие компьютерной системы управления прибором удаленно через Интернет и высокая стабильность по времени позволяют использовать D1System 24 часа в сутки.

На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:
- дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
- трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
- рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
- рентгеновская дифракция в низком разрешении (качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок).

Заказать работу
Картинка 1
Настольный ручной отрезной станок Buehler Delta AbrasiMet Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование пробоподготовки Скорость работы до 3400 об/мин.
Рециркуляционное охлаждение.
Подача отрезного круга сверху.
Заказать работу
Вход